掃描電子顯微鏡SEM腐蝕電鏡（搬運(yùn)搬遷裝卸）(SEM) 是一種介于透射電鏡實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?和實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?顯微鏡之間的一種觀察手段。

其利用聚焦的很窄的高能實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?來(lái)掃描樣品, 通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用, 來(lái)激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。

新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬(wàn)倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大, 視野大, 成像立體效果好。

此外, 掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合, 可以做到觀察微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用，亞瑟在實(shí)驗(yàn)室電鏡搬運(yùn)有一套成熟的方案與技術(shù)為你提供移出移入捆包氣墊車運(yùn)輸一站式服務(wù)